Zweistrahlgerät SEM / FIB
- FEI Helios NanoLab 600i mit Focussed Ion Beam
- Sputtercoater für Gold- und Kohlenstoff-Beschichtung
Blick durchs Rasterelektronenmikroskop auf einen Sili³Ô¹ÏÍøkarbid-Nanodraht
Lichtmikroskope
- Leitz Ergolux AMC mit Autofokussystem LAF AMC und computergesteuertem xy-Tisch
- Zeiss Axiotech
- Zeiss Jenapol
Bildverarbeitung
Image
Ansprechpartner Mikroskop-Pool
Raum: OG.31
Tel.: +49 (0)3731 39 2084
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