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Zweistrahlgerät SEM / FIB

Blick durchs Rasterelektronenmikroskop auf einen Sili³Ô¹ÏÍøkarbid-Nanodraht

Lichtmikroskope

  • Leitz Ergolux AMC mit Autofokussystem LAF AMC und computergesteuertem xy-Tisch
  • Zeiss Axiotech
  • Zeiss Jenapol
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