AG-Leiter: Dr.-Ing. Gert Schmidt
- Rasterelektronenmikroskopie mit fokussiertem Ionenstrahl – FIB-REM
- Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersivem Elektronenstrahlmikroanalysator – REM/EDX
- Rasterelektronenmikroskopie mit Rückstreuelektronenbeugung – REM/EBSD
- vollautomatische Partikelanalyse mit Materialidentifikation – PREM/EDX (ASPEX)
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- Mikrofokus-Computertomographie µ-CT
- Digitalmikroskopie
- Laserscanning-Mikroskopie
- Erhitzungsmikroskopie
- Kohlenstoff- und Schwefelanalyse
- Funkenspektrometrie für Fe und Al
- Thermische Analysen
- Dynamische Differenzkalorimetrie – DSC
- Differenz-Thermoanalyse – DTA
- Thermogravimetrie – TG
- Dilatometrie